Механические испытания
Динамический микротвердомер Shimadzu DUH-211S
Основные возможности:
- Определение твердости и параметров материала в соответствии с принятыми стандартами (ISO 14577-1 Annex A. “Металлические материалы. Инструментальное индентирование для определения твердости и параметров материала – Часть 1: Метод испытания. Приложение А.
- Определение параметров материалов по данным "нагрузка/ поверхность индентирования”)
- Высокоточное определение модуля упругости
- Контроль силы, прикладываемой в процессе испытания с разрешением 0,196 мкН
- Широкий диапазон нагрузок от 0,1 до 1961 мН
- Высокоточное измерение глубины следа
- Широкий диапазон методов испытаний
- Возможность выбора идентеров, в том числе и для проведения испытаний по Виккерсу и Кнупу
- Проведение циклических испытаний
Области применения:
- Тонкие пленки (специально обработанные поверхности, например, нитридный слой)
- Пластики
- Резины, каучуки и другие эластомеры
- Металлические изделия
- Волокна (ультратонкие, такие как оптические волокна и углеродные волокна)
- Хрупкие материалы (стекло, керамика и т.д)
- Микроскопические компоненты электроники
Испытательная машина Shimadzu Servopulser U-type
Возможности:
Проведение широкого диапазона испытаний на прочность от испытаний на статическую прочность до испытаний на усталостную прочность с большим количеством циклов нагружений. Максимальная испытательная нагрузка: динамическая – 200 кН, статическая – 240 кН. Ход при испытании до ±50 мм.
Микротвердомер BuehlerMicromet 5103 Buehler
Параметры микротвердомера:
- Тип прибора: цифровой с выносным LCD пультом управления
- Тестовые нагрузки: 10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000 гр.
- Тип турели: ручная
- Объективы: два - ´10 и ´50
- Индентер: один (Виккерс или Кнуп)
- Управление нагружением: автоматическое
- Время приложения нагрузки: 1-30 сек.
- Освещение: 50 Вт галогеновая лампа с настраиваемой апертурой
- Предметный стол: ручной двухкоординатный
- Диапазон перемещения стола: 25´25мм
- Микровинты: цифровые с точностью 0.001 мм.
Универсальный твердомер EMCO TEST M4C/R G3
Технические характеристики: нагрузки от 5 кг. до 187,5 кг. Максимальная высота образца 260 мм. Сенсорное управление. Автоматическое измерение твердости.
Возможные испытания:
Измерения твердости:
- По Виккерсу. В поверхность материала вдавливается алмазный индентор, имеющий четырехгранную пирамидальную форму. Твердомер, работающий по этому методу, должен измерять обе диагонали отпечатка с точностью до 1мкм.
- По Роквеллу. В поверхность вдавливается либо алмазный индентор с углом при вершине 120°, либо стальной шарик диаметром в 1,588 мм. Твердомер имеет специальный индикатор, который и показывает число твердости исследуемого материала.
Универсальные испытательные машины SHIMADZU AG-IC
Технические характеристики: нагрузка 50кН, 300кН, соответствует классу точности 1 по ISO 7500. Диапазон скорости траверсы от 0,0005 до 500 мм/мин. Максимальный ход при растяжении 600 мм. Видеоэкстензометр TRViewX 240S, соответствует классу точности 0,5 по ISO 9513, диапазон измерений240 мм.
Возможные испытания:
- Испытание на растяжение, сжатие, трех точечный изгиб при комнатной температуре.
- Испытания канатов, проволоки на растяжение в барабанных захватах.
Комплекс физического моделирования GLEEBLE 3500
Технические характеристики: максимальное усилие 100кН. Скорость нагрева и охлаждения до 10000 оС/сек. Максимальная температура нагрева 1750 оС. Скорость перемещения траверсы до 1000 мм/сек. Контроль температуры при помощи термопар. Проведение экспериментов в вакууме или защитной атмосфере.
Возможные испытания:
Испытания материалов:
- Испытания на растяжение/сжатие образцов при повышенных температурах: одноосное сжатие, вскрытие трещины, вызванной деформацией (SICO)
- диаграмма напряжений
- плавление и кристаллизация
- испытания в полужидком состоянии
- испытания на горячую пластичность
- термоциклирование/термообработка
- дилатометрия/фазовые превращения: нагрев или охлаждение, непрерывные или поэтапные испытания, изотермические, после деформации, испытания на релаксацию напряжения, испытания на ползучесть/разрыв
Моделирование:
- непрерывная разливка
- горячая прокатка
- ковка
- экструзия
- сварка (исследование зоны термического влияния)
- стыковая сварка сопротивлением
- диффузионная сварка
- непрерывный отжиг
- термическая обработка
- ускоренное охлаждение
Микроскопия
Металлографический инвертированный микроскоп Zeiss Axio Observer 3
Основные особенности:
Бинокулярная насадка с углом наклона 45 °, видеовыход
Револьверное устройство для установки 6 объективов: 50x, 100x, 200x, 500x, 1000x
Безрефлексные планполуапохроматы повышенного разрешения и контраста для работы по методам светлого и темного поля, поляризации
- EC Epiplan-Neofluar 5x/0.13 HD M27 (WD=14.5mm)
- EC Epiplan-Neofluar 10x/0.25 HD M27 (WD=9mm)
- EC Epiplan-Neofluar 20x/0.50 HD M27 (WD=2.2mm)
- EC Epiplan-Neofluar 50x/0.8 HD M27 (WD=0.60mm)
- EC Epiplan-Neofluar 100x/0.90 HD M27 (WD=0.28mm)
Предметный столик 250х230мм
Большой выбор методов контрастирования
Circular Differential Interference Contrast (C-DIC) - круговой дифференциально-интерференционный контраст
Блок для реализации темного поля в отраженном свете (Reflector module darkfield ACR P&C for reflected light)
Возможные исследования:
Оценка среднего размера зерна (ГОСТ 5639-82, ГОСТ 21073-75, astm e1382, astm e112, din 50 601.)
Оценка загрязненности стали неметаллическими включениями (astm e1245.)
Оценка микроструктуры графита в чугуне
Шаровидность графита в чугуне
Оценка качества материалов на основе графита ГОСТ 26132-84.
Определение пористости материалов на основе углерода.
Методика выполнения измерений процентного содержания графита в образцах углеродных материалов.
Методика выполнения измерения анизометричности зерен.
Определение структурной полосчатости стали
Оценка микроструктуры перлита
Определение размера перлитных колоний.
Определение процентного соотношения сорбитообразного и пластинчатого перлита.
Оценка металлургического качества жаропрочных никелевых сплавов
Оценка качества двухфазных титановых сплавов
Измерение слоев и покрытий
Методы сравнения с эталонами
Микроскоп металлографический инвертированный Meiji-200 TechnoMeijiTechnoCorp. в комплекте с программой анализа изображений Thixomet PRO ООО «Тиксомет»
Технические характеристики:
- Новая усовершенствованная ICOS - оптика (оптическая система микроскопа, скорректированная на «бесконечность», с тубусной системой F=200 мм)
- Объективы безрефлексные планахроматические Planachromat Epi: 50x, 100x, 200x, 500x,1000x
- Сверхширокопольные окуляры 10x (для работы в очках), линейное поле -22 мм
- Удобные бинокулярные насадки с фото-/видеовыходом
- Столик предметный 180 x245 мм
- Осветитель отраженного света, галогенная лампа (6В 30Вт)
- Фото-/видеовыход во фронтальной части основания
- Фото- и видео-документирование
Возможные исследования:
- Оценка среднего размера зерна (ГОСТ 5639-82, ГОСТ 21073-75, astm e1382, astm e112, din 50 601.)
- Оценка загрязненности стали неметаллическими включениями (astm e1245.)
- Оценка микроструктуры графита в чугуне
- Шаровидность графита в чугуне
- Оценка качества материалов на основе графита ГОСТ 26132-84.
- Определение пористости материалов на основе углерода.
- Методика выполнения измерений процентного содержания графита в образцах углеродных материалов.
- Методика выполнения измерения анизометричности зерен.
- Определение структурной полосчатости стали
- Оценка микроструктуры перлита
- Определение размера перлитных колоний.
- Определение процентного соотношения сорбитообразного перлита и пластинчатого.
- Оценка металлургического качества жаропрочных никелевых сплавов
- Оценка качества двухфазных титановых сплавов
- Измерение слоев и покрытий
- Методы сравнения с эталонами
Анализатор стереоизображений поверхности твердых тел на базе стереомикроскопа MeijiTechnoRZ-В MeijiTechnoCorp. в комплекте с программой анализа изображений Thixomet PRO ООО « Тиксомет»
Технические характеристики:
Оптическая схема Аббе.
Общее увеличение (с комплектом окуляров и объективов): от 3.75x до 300x. ZOOM 1:10 (0.75x - 7.5x).
Основные объективы Plan Achromat: 0.5x, 0.75x, 1.0x, 1.5x, 2.0x.
Сверхширокопольные окуляры (UWF) с диоптрийной настройкой: 10x, 15x, 20x.
Бинокулярные насадки: стандартная бинокулярная насадка с углом наклона окулярных трубок 45°, эргономичная бинокулярная насадка с регулируемым углом наклона окулярными трубками от 10° до 50°.
Фото- и видео-документирование.
Возможные исследования: анализ поверхности изломов
Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV JEOL с системой микроанализа INCA Energy 450 x-МАХ 50 Premium, HKL Premium EBSD System Nordlys II 2 S Oxford InstrumentsLtd.
Технические характеристики электронного микроскопа:
- термоэмиссионный источник электронов;
- ускоряющее напряжение 0,3 – 30 кВ;
- увеличение от x 5 до x 300 000;
- разрешение до 3,0 нм (при ускоряющем 30 кВ);
- виды контраста (вторичные и отраженные электроны): топографический, композиционный, теневой;
- столик для образцов эвцентрического типа с компьютерным управлением.
Направления использования:
- исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения;
- топографический и качественный фазовый анализ поверхности;
- возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).